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作者:彩神APP   来源:http://www.216.net/   评论:0
内容摘要:集成电路失效分析流程中,I/VCURVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步),可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多,传统的curvetracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1autocurvetrace...

集成电路失效分析流程中,I/VCURVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步),可见curve量测的重要性。

随着器件的pin脚数越来越多,传统的curvetracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。

Advanced推出的smart-1autocurvetracer很好的满足了客户的需求,尤其是在BGA等通讯产品方面,具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。 国内知名客户有:上海宜硕、深圳宜智发、华为、珠海炬力、苏州瑞萨、苏州三星、东莞三星、SMIC、天水华天、无锡安盛、深圳沛顿、华测检测等等主要参数:1.高分辨率之I/V量测范围,VoltageMeasureRange可达200mV~200V(需搭配keithly2400),CurrentMeasureRange可达1uA~1A,且测试Channel可从64pin逐步扩充至,以满足客户多元化之产品测试需求。

2.机台主要测试功能,包括:Open/ShortTest、I/VCurveAnalysis、IddMeasuring、PoweredLeakage(漏电)Test可协助客户解决其产品在DCFail之电性分析,并节省客户上FunctionalTester之借机成本及时间。

3.采用电脑化控制的操作系统,比传统的CurveTracer更易于量取I/Vdata及产生格式化的report。

的操作系统,易学易懂,而所建立的Device之PinAssignment可储存在电脑中,未来可重复被使用,比传统的SwitchingMatrix更便利省时。

5.机台可搭配ProbeStation及EmmissionMicroscope做漏电分析。

6.机台本身除了可作产品的失效分析外,还可结合AutoHandler,做MassProduction之Open/ShortTest,可谓一机多用。


标签:客户 分析 
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